读特客户端·深圳新闻网2022年11月8日讯（记者 杨维易 通讯员 戴志坚 王新中）11月2日，由中国电子学会和中国仪器仪表学会联合主办，电子科技大学（深圳）高等研究院（以下简称“高等研究院”）牵头承办的首届中国集成电路测试大会在龙华区举行。来自深圳大学、电子科技大学、中山大学、中国计量院、中国电科、航天科工等国内高等院校、科研院所、军工集团、龙头企业的近80名代表参加本次大会。

作为“走进高研创新共赢”系列活动，大会聚焦集成电路测试产业发展、围绕相关技术研究和人才培养等展开研讨和交流，旨在促进国内集成电路测试行业技术进步，面向世界科技前沿，助推粤港澳大湾区集成电路测试产业融合发展。

龙华区委组织部副部长、区人才工作局局长吴敏，区科技创新局副局长朱小宁，中国电子科技集团公司测试仪器首席科学家年夫顺研究员，中国电子科技集团公司测试仪器首席专家于文震研究员，深圳大学全智教授，桂林电子科技大学许川佩教授，中科天衡（成都）科技有限公司总经理李冉，深测芯检测认证有限公司董事长张宏忠，深圳信息职业技术学院科研处处长王新中教授，电子科技大学学术委员会主任王厚军教授，高等研究院执行院长汤志伟教授、副院长邹见效教授、集成电路重点实验室主任戴志坚教授等领导、专家参会并发表演讲。会议由电子科技大学学术委员会主任王厚军教授主持。

汤志伟致欢迎辞。他表示，近年来在国家政策的大力支持下，我国集成电路产业迅速崛起，逐渐成为全球半导体产业新的中坚力量。深圳市作为我国重要的电子信息产业基地，孕育了极具特色和规模的集成电路产业链。首届集成电路测试大会由高研院牵头承办，为集成电路产业发展搭建了一个优势互补、务实创新、开放共享的交流、合作的产学研平台，让行业创新资源充分聚合、流转和落地，孵化出一系列重要的合作成果，助力创新人才培养与关键技术攻关，共同推动国内集成电路测试行业发展。

吴敏在致辞中谈到，龙华区现已进入数字化转型发展的关键期、决胜期。首届集成电路测试大会落户龙华，可谓恰逢其时。期待在座各位业内大咖能围绕破解产业人才紧缺难题、推动产学研用深度融合、拓宽校企协同育人路径等主题积极建言献策、贡献智慧力量，探索出政产学研多方协作模式，为集成电路行业自主可控发展添砖加瓦。我们也期待着大会能结出丰硕成果，让更多好的项目落户龙华。

朱小宁表示，龙华区正大力发展数字经济，促进数字技术和实体经济深度融合，赋能传统产业转型升级，结合深圳市“20＋8”产业集群战略部署，构建高端化、规模化、集群化的产业链生态，打造百亿级集成电路产业链群。首届集成电路测试大会在深圳龙华举行，期待各位专家学者在此展开集成电路测试相关技术研究和人才培养等方面研讨和交流，共同促进国内集成电路测试行业技术进步，合力推动龙华区半导体与集成电路产业发展。

活动中，中国电子科技集团公司测试仪器首席科学家年夫顺教授就我国集成电路测试仪器发展现状及存在问题发表专题演讲。龙华区人才工作局为年夫顺首席赠送人才版画，高等研究院聘请年夫顺为战略咨询委员。随后由王厚军、黄俊林等专家发表主题演讲，共同探讨集成电路测试领域的最新技术发展。高等研究院集成电路测试技术重点实验室主任戴志坚教授发表主题演讲及大会结束致辞。

本次大会系第七届深圳国际创客周主要活动之一，由中国仪器仪表学会主办，中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会、中国电子学会电子测量与仪器分会、高等研究院、中国电子科技集团公司第四十一研究所、深圳信息职业技术学院和深测芯检测认证有限公司协办。